X-200 XRF是SciAps諸多型號(hào)中性能與價(jià)格比極高的一款產(chǎn)品。它使用了性能 一流的SDD探測(cè)器,高度優(yōu)化的X射線管和探測(cè)器之間的幾何結(jié)構(gòu),同時(shí)改進(jìn)了散 熱性、減輕了重量,提高耐用性。在Android操作系統(tǒng)上運(yùn)行WiFi和軟件,輕松 實(shí)現(xiàn)智能手機(jī)的高速度、連接性和數(shù)據(jù)管理。
產(chǎn)品特點(diǎn):
重量輕,1.4Kg(含電池);
全新散熱設(shè)計(jì),可在高達(dá)43℃以上環(huán)境溫度連續(xù)工作;
改進(jìn)的內(nèi)部電路設(shè)計(jì);
全新外殼設(shè)計(jì)和金屬部件升級(jí);
最新的軟件界面和校準(zhǔn);
規(guī)格說(shuō)明
顯示屏 | 4.5英寸彩色觸摸屏,智能手機(jī)式顯示屏-PowerVR SGX540 3D圖形 |
樣品監(jiān)測(cè) | 內(nèi)部攝像頭,用于在分析前和分析期間查看樣品,以便正確對(duì)準(zhǔn)樣品。微距相機(jī),用于掃描二維碼或條形碼以及照片文檔和報(bào)告生成。 |
通訊/數(shù)據(jù)傳輸 | Wi-Fi、藍(lán)牙、USB 可連接到大多數(shù)設(shè)備,包括SciAps Profile Builder PC 軟件。提供SciAps云數(shù)據(jù)管理選項(xiàng) |
激發(fā)源 | 6-40kV,200uA銠靶用于合金分析,6-50kV,200金靶用于其他大多數(shù)應(yīng)用 |
探測(cè)器 | 25mm2硅漂移探測(cè)器(有源區(qū)),135eV分辨率 FWHM,5.95Mn K-α線。 |
Ⅹ射線濾光片 | 用于光束優(yōu)化的x6濾光片濾光輪 |
處理器 | ARM Cortex -A9 雙核/1.2GHz 內(nèi)存:1GB DDR2 RAM,1GB NAND |
脈沖處理器 | 14 位數(shù)模轉(zhuǎn)換,80MSPS采樣率,8K 通道 MCA,USB2.0高速數(shù)據(jù)傳輸至主處理器;FPGA應(yīng)用數(shù)字濾波用于高吞吐量脈沖處理(50nS-24uS峰值時(shí)間) |
校準(zhǔn)方法 | 基本參數(shù)、康普頓歸一化和/或康普頓歸一化用于合金分析。地球化學(xué)、環(huán)境和土壤校準(zhǔn) |
校準(zhǔn)檢查 | 內(nèi)部部316不銹鋼標(biāo)準(zhǔn)樣品,用于校準(zhǔn)驗(yàn)證和能量標(biāo)度驗(yàn)證 |
使用環(huán)境溫度范囤 | 1-12 2C - 55 'C |
安全 | 密碼保護(hù)使用(用戶級(jí)別)和內(nèi)部設(shè)置(管理員) |
規(guī)范 | CE, RoHS, USFDA認(rèn)證,符合加拿大RED Act. |
應(yīng)用場(chǎng)景
1.合金:快速測(cè)試各種合金,SciAps X-200是廢舊金屬加工過程中 無(wú)損分析及生產(chǎn)質(zhì)量控制的絕 佳選擇。
2.地球化學(xué)/土壤:適用于環(huán)境、探索者、勘探和 采礦行業(yè),堪比工業(yè)級(jí)別的分 析精度、檢出限和測(cè)試元素范 圍。儀器可使用工廠的基本參 數(shù)法校準(zhǔn),康普頓歸一化 (EPA 方法 6200)校準(zhǔn)或用 戶定義的導(dǎo)數(shù)校準(zhǔn)。
3.RoHS:快速、精確分析Pb,Hg,Cd,Br 和Cr以及其他受限材料和無(wú) 鹵素要求。三種光束條件下 測(cè)試,可優(yōu)化全部元素的 LOD,自動(dòng)樣品類型識(shí)別(聚 合物、合金或混合類型)。